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光纖通信實驗箱的改進

更新時間:2018-06-13      點擊次數(shù):2091


1 現(xiàn)有實驗裝置
本實驗中心光纖通信實驗與我院現(xiàn)有的光電技術實驗、光纖技術實驗保持著較好的分工與協(xié)作,承擔了光電技術方面的一系列的實驗與實踐課程。
光電技術實驗主要包括: 光源基礎知識實驗; 發(fā)光二極管( 光源) 的照度標定實驗; 光敏電阻特性實驗; 光敏二極管的特性實驗; 透射式光電開關實驗;光敏三極管特性實驗; 硅光電池特性實驗; 紅外反射式光電開關( 接近開關) 實驗; 光柵位移傳感性能實驗; PSD 位置傳感器實驗等。
光纖技術實驗主要安排有光纖處理及其性能測試,包括: 光纖端面處理、耦合與焊接技術,光纖損耗譜測試,光纖數(shù)值孔徑測試。光源性能測試,包括:LD/LED 功率- 電流及電壓- 電流特性曲線測試,LD/LED 輸出光譜特性測試,LD 遠場特性測試。光器件性能測試,包括: 光纖耦合器的原理及性能測試,摻鉺光纖放大器( EDFA) 的性能測試,摻鉺光纖激光器( EDFL) 實驗。光通信系統(tǒng)基礎實驗,包括:光發(fā)送模塊實驗,光接收模塊實驗,波分復用( WDM) 光纖通信系統(tǒng)實驗。
光纖通信實驗依靠光纖通信實驗箱,可以完成多個實驗,既包括驗證性實驗,還包括設計性綜合實驗,實驗時間長( 一般需要12~15 天) ,內(nèi)容豐富,是學生進行了光電技術實驗、光纖技術實驗之后進行的生產(chǎn)實習實驗。

圖1 現(xiàn)有實驗箱結構示意圖
1.1 裝置的結構與布局
現(xiàn)有光纖通信實驗箱根據(jù)光纖通信實驗的內(nèi)容,為了利于學生理解實驗現(xiàn)象后面的本質(zhì),實驗箱( 如圖1 所示) 進行模塊化設計,共分9 個模塊: 電源、模擬函數(shù)發(fā)生器、計算機接口、語音采集、語音還原、CMI 編譯碼、偽隨機碼序列發(fā)生器、光發(fā)射和光接收。
( 1) 電源模塊: 主要功能是給實驗箱中的所有模塊供電,并提供GND、+5V、+12V 和-12V 電壓。
( 2) 模擬函數(shù)發(fā)生器模塊: 產(chǎn)生SQ 方波、SIN正弦波、TRI 三角波,并能通過電位器的調(diào)節(jié)實現(xiàn)失真、頻率、占空比以及振幅的調(diào)節(jié)。
( 3) 偽隨機碼序列發(fā)生器: 將時鐘信號轉(zhuǎn)變成某一特定的序列信號,也就是偽隨機碼序列信號。
( 4) CMI 編譯碼模塊: CMI 碼即傳號翻轉(zhuǎn)碼,“1”交替地用“00”和“11”來表示,而“0”則固定用“01”來表示,因此把信號從1 位( bit) 變成2 位( bit) 。這種碼的特點是有一定的糾錯能力,并且易于實現(xiàn),易于定時提取,因此在低速系統(tǒng)中選為傳輸碼型。
( 5) 光發(fā)射模塊: 光發(fā)射部分由驅(qū)動電路和半導體二極管( LED) 組成。驅(qū)動電路對光源進行幅度調(diào)制,把需傳輸?shù)男盘栒{(diào)制到光載波上。( 實際上,由于LED 已經(jīng)燒壞,只能用導線直接把電信號引入到光接收模塊。)
( 6) 光接收模塊: 光接收部分由光探測器、信號放大電路組成。( 由于光敏二極管已經(jīng)損壞,只能直接用導線將光發(fā)射信號引入過來。)
( 7) 語音采集模塊: 采用話筒將語音輸入,把語音信號轉(zhuǎn)化成電信號,采用放大電路將電信號放大。
( 8) 語音還原模塊: 經(jīng)過前級光接收模塊對信號放大,采用聽筒將語音信號還原輸出。
( 9) 計算機接口模塊: 采用導線將計算機上的控制信息輸入到計算機接口模塊。
1.2 裝置的功能
光纖通信實驗借助于光纖通信實驗箱可進行以下方面的實驗:
( 1) 簡單模擬光纖通信系統(tǒng)實驗;
( 2) 簡單的數(shù)字光纖通信實驗;
( 3) CMI 編碼的數(shù)字光纖通信系統(tǒng)實驗;
( 4) 光纖通信系統(tǒng)指標測試實驗;
( 5) 語音光纖通信系統(tǒng)實驗;
( 6) 基于光纖傳輸?shù)哪M語音通信系統(tǒng)的設計;
( 7) 基于光纖傳輸?shù)臄?shù)字通信系統(tǒng)的設計;
( 8) 基于PCM 調(diào)制的單向數(shù)字語音傳輸系統(tǒng)的設計等。
其中前面5 個實驗為普通的驗證性實驗,后面3 個為綜合設計性實驗。實現(xiàn)了一套實驗設備能進行多個實驗的功能,并且能同時進行普通驗證性實驗與綜合設計性實驗。
通過利用光纖通信實驗箱進行實驗,可以鍛煉學生如下幾個方面的能力:
( 1) 學習使用萬用表對各種元件以及電路進行測試;
( 2) 了解各種芯片的原理以及應用;
( 3) 學會使用示波器對各種信號進行觀察與測量分析;
( 4) 進行電路設計與調(diào)試的綜合實踐;
( 5) 鍛煉分析和解決電路、光學等問題的能力;
( 6) 直觀地理解光纖通信原理。
2 結構改進
現(xiàn)有的光纖通信實驗箱布局和實驗內(nèi)容的安排總體而言比較合理。但現(xiàn)有的光纖通信實驗箱均購置于2000 年,使用年限長,而且每年使用的人次多,存在實驗箱壞損嚴重、缺少光纖傳輸部分,語音系統(tǒng)方面的實驗效果不明顯,長期沒有開設,計算機接口模塊幾乎長期沒有使用等不足。而且,原廠家已不再進行此產(chǎn)品的生產(chǎn)。為此,在現(xiàn)有實驗箱的基礎上對光纖通信實驗箱進行了改進與設計。
2.1 光傳輸改進
由于現(xiàn)有的光纖通信實驗箱中沒有光纖傳輸?shù)牟糠?,光發(fā)射與光接收部分的信號傳輸是依靠導線直接將光發(fā)射模塊的信號引入光接收模塊的。學生根本看不到光纖通信的實驗現(xiàn)象,更談不上通過實驗理解光纖通信的原理。這也是本實驗箱的主要缺陷所在。為此對光纖通信實驗箱進行改進時,重點對光纖傳輸部分進行了設計。
2.1.1 采用半導體激光器光發(fā)射與光接收
光纖傳輸部分設計首先采用市面上能購買的半導體激光器進行光發(fā)射,光纖傳輸與光敏三極管進行光接收的整套器件。如圖2 所示。
在實驗調(diào)試過程中發(fā)現(xiàn)此裝置效果較好,但是,加載的信號電壓稍高一些,或者工作時間稍長一些,半導體激光器發(fā)出的激光就突然變得很弱,經(jīng)過光纖傳輸后,光敏三極管接收不到光傳輸?shù)男盘枴=?jīng)過反復實驗與測量對比,發(fā)現(xiàn)電壓稍高一些,或者工作時間稍長一些,半導體激光器就燒壞了,所以,發(fā)光強度變?nèi)?。而且這一套半導體激光器的光發(fā)射與光接收器件價格也比較貴,一套價格在100 元左右。所以光纖通信實驗箱不適合采用半導體激光器的光發(fā)射與光接收的器件。

圖2 半導體激光器的光發(fā)射與光接收器件圖
2.1.2 采用半導體二極管光發(fā)射與光接收
半導體激光器的光發(fā)射與光接收的問題主要是器件容易損壞、價格貴,為此,設計采用了價格比較低廉的半導體二極管( LED 光源) 以及光敏二極管。
單模光纖價格貴,并且容易損壞,為此設計采用價格低廉的塑料光纖。改進后的光纖通信實驗箱實物圖,如圖3 所示。
 
圖3 采用LED 光發(fā)射的光纖通信實驗箱實物圖
2.2 其他改進
由于LED 也有電壓限制,超過一定的電壓后LED 燈也容易燒壞。為此,增加了限壓電阻,防止電壓過高燒壞LED 燈。預留了直接將光發(fā)射的信號引入光接收的跳線接頭,可以進行電-電傳輸與光纖傳輸?shù)膶Ρ葘嶒灐?br />由于采用本實驗箱已經(jīng)可以完成較多的實驗,而且實驗過程中還需要用到示波器、萬用表、工具箱等,所需的實驗臺面積比較大,所以再擺放計算機進行相應的實驗不太合理。為此,刪除了需要計算機輔助才有用的計算機接口模塊部分。
以往設計的語音采集模塊和語音還原模塊電路比較簡單,噪音較大,效果不明顯。為此,對這兩個模塊進行了一定的改進,增加了放大倍數(shù),增加了抑制噪聲的功能,改進后的語音光纖傳輸效果明顯得到改善。
2.3 預期效果
通過對現(xiàn)有光纖通信實驗箱進行改進與設計,增加了光纖傳輸部分,使學生對光纖通信有了直觀的印象; 通過實驗與理論結合,對光纖通信理論的理解有了進一步的加深。設計了限流電阻,可以防止電壓過高燒壞LED 燈,刪去了計算機接口模塊,將實驗電路板進行重新布局,加大元器件之間的間距,便于進行實驗與測量。增加了語音采集模塊和語音還原模塊電路的放大倍數(shù),抑制了噪音,使語音光纖傳輸效果明顯改善。將容易損壞的測量點采用比較結實耐用的材料,確保了實驗箱的耐用性。采用改進后的實驗箱,不但能使學生對光纖通信實驗有直觀的印象,而且實驗效果明顯也增強了學生對實驗的信心與興趣。
3 結語
在現(xiàn)有光纖通信實驗箱的基礎上,對缺損的光纖通信部分進行了設計與改造。首先采用了帶尾纖的半導體激光器進行光發(fā)射和帶尾纖的光敏三極管進行信號的接收以及單模光纖傳輸,實驗效果好。
但是,由于這一套裝置價格相對而言比較貴,而且易于損壞,不利于學生進行自主實驗。為此,重新進行了設計,新的設計改用半導體二極管( LED) 進行光發(fā)射,光敏二極管進行光接收以及塑料光纖傳輸,實驗效果好,而且這套裝置價格較低廉,比較適合學生進行實驗。為了防止電壓過高,燒壞LED,在原有電路的基礎上設計了限壓保護電路。同時改進了語音采集與語音還原電路,使語音傳輸效果明顯,能激發(fā)學生的實驗信心與興趣。刪去了長期不用的計算機接口模塊,將電路板重新布局,使元器件之間的間隔增大,便于學生進行實驗與測量。
 

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